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FISCHERSCOPE X-RAY XAN215 X射線測厚儀信息
點擊次數(shù)：41 更新時間：2025-04-17 打印本頁面 返回
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 是一款高性價比的入門級能量色散型 X 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，專為無損分析場景設計，尤其適用于珠寶、錢幣、貴金屬等領域的檢測需求。
核心技術優(yōu)勢
多元素精準分析：可覆蓋從氯（17 號元素）到鈾（92 號元素）的廣泛元素范圍，最多可同時測定 24 種元素，精準解析貴金屬及其合金的成分構(gòu)成。
高效穩(wěn)定性能：延續(xù) FISCHERSCOPE X-RAY 系列的品質(zhì)，具備初始高準確性與長期穩(wěn)定性，大幅降低儀器校準所需的時間與人力成本。
創(chuàng)新分析方法：采用先進的 Si-PIN 基本參數(shù)法，無需校驗標準片校正，即可快速分析固態(tài)、液態(tài)樣品的成分，并精確測量鍍層厚度，簡化操作流程。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215產(chǎn)品應用
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 在多個領域發(fā)揮關鍵作用，典型應用場景包括：
貴金屬及合金分析
珠寶、牙科用合金成分檢測
黃金制品、K 金制品純度鑒定
鉑金、銀制品成分分析
銠制品成分及鍍層檢測
鍍層厚度測量
各類合金材料的單層及多鍍層厚度精確測量
