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Dualscope MP*解決

Dualscope MP*解決

更新時(shí)間:2024-09-23
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Dualscope MP*解決: 涂層測(cè)厚儀是一種無(wú)損用于各種金屬材料表面涂層厚度檢測(cè)的儀器,用戶在使用過(guò)程中,有時(shí)候會(huì)有一些異常出現(xiàn),這些異常有時(shí)候我們自己是可以處理的,根據(jù)長(zhǎng)期以來(lái)涂層測(cè)厚儀的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),下面我們就來(lái)說(shuō)說(shuō)涂層測(cè)厚儀常見故障及處理方法。

Dualscope MP*解決的詳細(xì)資料:

品牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾

Dualscope MP*解決

1 常見故障及處理方法.

1.儀器不開機(jī)
①請(qǐng)檢查確認(rèn)電池是否有電,或更換新的電池。 
②請(qǐng)檢查電池是否接觸良好,且電極片沒(méi)有氧化或生銹等(如生銹可用工具刮掉氧化層). 
③請(qǐng)檢查按鍵是否按壓到位,且按鍵正常有彈性。 
④其它主機(jī)線路故障,咨詢公司售后服務(wù)或返廠檢修. 
2.儀器測(cè)量不準(zhǔn)
①請(qǐng)先行系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器,標(biāo)定,使之符合誤差范圍。誤差遵循≦3%(厚度值),如需測(cè)試更加精準(zhǔn)請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的光滑裸基上(未涂裝的基體上)進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。 
②請(qǐng)檢查探頭前端是否磨損,是否變形,有附著物質(zhì)等,探頭外護(hù)套是否不在水平等,變形可適當(dāng)用砂紙打磨修正,處理干凈.
③被測(cè)件基材表面粗糙度影響,引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,測(cè)量時(shí)在不同位置增加測(cè)量次數(shù),克服偶然誤差?;蛴蒙凹埓蚰セ闹匦滦?duì)儀器零點(diǎn)。 
④測(cè)量手法以及探頭的放置,測(cè)試的時(shí)候需保持探頭與試樣垂直 
⑤被測(cè)件曲度,在該探頭所適應(yīng)的曲率半徑下,重新校準(zhǔn)。尤其管道凸面,注意探頭V型卡槽穩(wěn)定放置。 
3.儀器無(wú)法測(cè)量
①檢查探頭是否連接良好,插到位.
②檢查探頭線是否有斷的地方,重點(diǎn)檢查探頭接插件處(接頭處可以旋鈕擰開查看) 
③探頭頻繁大量使用,傳感器老化或損壞,燙傷等
④其它主機(jī)線路元件故障
4.測(cè)量無(wú)數(shù)據(jù)變化
①探頭是否連接良好探頭是否損壞等 

2  故障查找

信息

解釋 / 可能原因

解決方法

Er1

內(nèi)部錯(cuò)誤。

進(jìn)行歸零步驟。

如錯(cuò)誤重復(fù)出現(xiàn),聯(lián)絡(luò)Fischer維修部。

Er4

內(nèi)存測(cè)量數(shù)據(jù)儲(chǔ)存滿。

刪除內(nèi)存測(cè)量數(shù)據(jù)。

Er5

無(wú)法確定底材值。

 

用合適的標(biāo)準(zhǔn)片校正。

校正標(biāo)準(zhǔn)片至少要有實(shí)際工件涂鍍層的1/2(在涂層上校正時(shí))。

 

 

信息

解釋 / 可能原因

解決方法

Er6

 

超出測(cè)量范圍,不能顯示讀數(shù)。

原因: 涂鍍層太厚。

原因: 不正確測(cè)量。

原因: 歸零或校正方法有誤。

涂鍍層厚度在儀器測(cè)量范圍內(nèi)。

正確測(cè)量 (例如: 在測(cè)量前或后,不要把儀器放在工件上徘徊;在測(cè)量后不要太快提起儀器)。

Er7

歸零或校正時(shí),非正常值被認(rèn)可了。

- 不正確測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片。

 

 

 

 

- 要求測(cè)量底材時(shí)卻測(cè)量了標(biāo)準(zhǔn)片。

- 測(cè)量有折痕的標(biāo)準(zhǔn)片。

- 測(cè)量時(shí),儀器沒(méi)有平放在工件或標(biāo)準(zhǔn)片上。

刪除內(nèi)存數(shù)據(jù),重新測(cè)量。

重新正確歸零或校正 (例如:在測(cè)量前或后,不要把儀器放在工件上徘徊;在測(cè)量后不要太快提起儀器)。

 

 

在同一工件上測(cè)量多次取其平均值歸零。

更換標(biāo)準(zhǔn)片。

正確測(cè)量,將儀器平放在工件或標(biāo)準(zhǔn)片上。

Er12

校正時(shí)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片順序錯(cuò)誤。

按正確的順序重新校正。 

Er13

主校準(zhǔn)時(shí),標(biāo)準(zhǔn)片的間隔不在允許范圍內(nèi)。

 

使用了錯(cuò)誤的標(biāo)準(zhǔn)片。

 

誤操作,在標(biāo)準(zhǔn)片上而不是在底材上歸零。

通知客戶服務(wù)部門。

 

使用正確的標(biāo)準(zhǔn)片。

 

在底材上歸零。

Er14

儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 無(wú)法計(jì)算主校準(zhǔn)參數(shù)。原始主校準(zhǔn)參數(shù)被保留。

重做主校正。
如果錯(cuò)誤重復(fù)出現(xiàn):
客戶服務(wù)部門。

Er15

無(wú)法儲(chǔ)存主校準(zhǔn)參數(shù)。
探頭可能已損害。

客戶服務(wù)部門。

Er17

讀數(shù)不夠, 因此無(wú)法結(jié)束一個(gè)組 。

再測(cè)幾個(gè)數(shù)據(jù),直到*組可以結(jié)束,然后產(chǎn)生一個(gè)新的統(tǒng)計(jì)值。

Er22

儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 錯(cuò)誤訪問(wèn)內(nèi)存或EEPROM。

 

客戶服務(wù)部門。

 

 

Er28

儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 無(wú)法計(jì)算測(cè)量數(shù)據(jù)。

客戶服務(wù)部門。 

Dualscope MP0

技術(shù)規(guī)格:

量 程:0~2000μm。

精 度:1μm(0~50μm);2%(50μm~1000μm);3%(1000μm~2000μm)。

重復(fù)精度: ±0.5μm(0~100μm); ±0.5%(>100μm)。

zui小測(cè)量曲率直徑:在精度范圍內(nèi),鐵基φ35mm,非鐵基φ50mm

(在允許誤差<10%時(shí),鐵基為φ10mm,非鐵基為φ2mm)。

zui小測(cè)量面積直徑:φ4mm(在允許誤差<10%時(shí),為φ2mm)。

zui小基體厚度:鐵基0.2mm(誤差<10%時(shí));非鐵基0.09mm(誤差<10%時(shí))。

重 量:60g(不含電池)。

外形尺寸:64mm×30m×85mm。

電 源:兩節(jié)5號(hào)電池。

 


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