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手持式DUALSCOPE FMP40膜厚測量儀 該手持儀器用于測量所有金屬上的涂層厚度，即非破壞性。 該儀器具有許多功能，包括自動基板材料識別和圖形測量顯示。后者作為具有高斯貝爾曲線的直方圖。 它還提供過程容限限制的輸入選項和相關(guān)過程能力指標cp和cpk的計算。 如果超過公差設(shè)定限制，則可以給出聲音和視覺警告。

Fischer測厚儀Couloscope CMS2 STEP 除了與COULOSCOPE CMS2相對應(yīng)的涂層厚度測量之外，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供了根據(jù)ASTM B764 - 94和DIN 50022進行STEP測試測量的功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測量單個涂層厚度和電位 多種鎳涂層以簡單的標準符合方式的差異。

Fischer PHASCOPE PMP10 PHASCOPE PMP10是一款根據(jù)相位感度渦流方法快速，手持式儀器，用于非破壞性的測量多種基材上的，包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度。簡便和現(xiàn)場的測量鍍層厚度的手提式儀器。通過選擇合適的測量探頭，甚至可以達到非接觸式的測量。

FISCHERSCOPE MMS臺式測厚儀： 在所有行業(yè)，作為其現(xiàn)代設(shè)計的結(jié)果，MMS 可以隨時適應(yīng)您的需求并擴展。 無論涂層厚度，電導(dǎo)率還是鐵素體含量，使用MMS，您將始終正確地進行測量。 MMS用于所有測量應(yīng)用的一種測量儀器。

Fischer測厚儀測量原理 根據(jù)磁感應(yīng)和/或渦流法測量非破壞性涂層厚度。 自動探頭識別 自動識別（fmp20）襯底材料 USB接口的數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C 常見特征值的統(tǒng)計顯示，如均值、標準差、Z小值、Z大值、范圍 對試樣幾何形狀的簡單調(diào)整 交付與PC軟件菲舍爾數(shù)據(jù)中心具有以下功能：傳輸和歸檔測量數(shù)據(jù)，全面的統(tǒng)計和圖形評價，易于創(chuàng)建和打印檢查報告